半導體檢測量測設備分類表

半導體行業(yè)綜研|Semiconductor industry|

2024-07-15 16:50:06 758

感謝廣大熱心讀者和行業(yè)朋友的反饋提醒，我糾正了不少錯誤，也補充了更多的數(shù)據(jù)

不過在和大家交流的過程當中，我也發(fā)現(xiàn)之前的設備分類方式還存在著不少問題：缺少部分重要設備種類、一些分類方法有錯誤、某些地方分得不夠細致 ...

于是，在和一些業(yè)內(nèi)專家溝通并獲得大量實際幫助后，我更新了一版檢測量測設備的分類表，整理后發(fā)布出來供大家參考和確認

如果大家發(fā)現(xiàn)問題，請務必和我溝通，或者在公眾號留言也行

我在進一步收集反饋完善這個分類版本后，會以這個分類方式重新梳理供應商信息

等數(shù)據(jù)完善以后，我會再發(fā)布數(shù)據(jù)。謝謝大家支持

免責聲明：本文采摘自“半導體綜研”，本文僅代表作者個人觀點，不代表薩科微及行業(yè)觀點，只為轉(zhuǎn)載與分享，支持保護知識產(chǎn)權，轉(zhuǎn)載請注明原出處及作者，如有侵權請聯(lián)系我們刪除。

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